Yttriums effekt på den heta sprickor och krypa egenskaperna hos en Ni-baserad superlegous uppbyggd av tillsatsproduktion (2)|News|Tillverkad i Kina Kina Produkter tillverkare leverantörer Exportörer och importörer på www.sweb2b.com

Yttriums effekt på den heta sprickor och krypa egenskaperna hos en Ni-baserad superlegous uppbyggd av tillsatsproduktion (2)

Utgivningsdatum:2021-06-28

1. Materials and Methods

De exakta kemiska kompositionerna (i mass-%) av Hastelloy-x legeringar med 0 och 0,12 yttrium kallas HX och HX-a, respektive, och visas i tabell 1. Dessa två exemplar byggdes i form av en 45 × 45 × 45 mm kub med hjälp av EOS M290 SLM-maskinen (EOS, Robert-stirling-ring 1, 82152, Krailling, Bayern, Tyskland) i en skyddande Ar-atmosfär med användning av pre-alloyed pulver och samma parametrar bearbetnings. Vi utförde standardvärmebehandling för både HX och HX-a-exemplen. Lösningsvärmebehandling (ST) utfördes vid 1177 ° C i 2 h, följt av luftkylning till rumstemperatur

-/#+---av krypstestet, slitade vi kub in i ett antal plattor med en tjocklek av 3,1 mm; från dessa plattor, de kryptestprovbitar skärs ut med användning av en elektro-discharge trådskärmaskin. Mätdimensionerna för varje prov var 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Vi genomförde krypstestet under 900 ◦C-80 MPa-förhållanden. Proven polerades med användning av SiC-smärgelpapper upp till grad 1200följt av diamantpasta upp till kolloidal kiseldioxid (0,5 | im) med användning av en Struers (Ballerup, Danmark) automatisk polermaskin. Alla prover tvättades sedan med etanol i ett ultraljudsbad under 10 minuter. Vi etsade provstyckena med 20% fosforsyra

80% vattenlösning för att observera de smälta pool gränser. Den mikrostrukturella observationen genomfördes med användning av ett optiskt mikroskop (Olympus Corp. Tokyo, Japan), ett skanningselektronmikroskop (SEM; Hitachi, Ltd., Tokyo, Japan), Energy

Dispersive SpectroScopy (EDS) (S3700N Typ EDS utrustning tillverkad av Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Japan), och fältemissionselektronmikroskop (FE SEM) (JSM7100, JEOL, Tokyo, Japan) ansluten till en EDS (EDAXAMETEX 9424). Bild J programvara (64

-bit Java 1.8.0_172) användes för att analysera spricka fraktion och porositetsmätningar

3. results.

'.1na prover optiska mikrostrukturer i sombuilt skick. Alla tillverkades med samma behandlingsparametrar. HXa provstycket uppvisade fler sprickor än HX (Figur 1a) eftersom HX-a provexemplaret ytterligare yttrium (Y) legeringselement att HX provet saknade. Den anmärkningsvärda punkten är att alla sprickor var parallella med byggriktningen (BD) (Figur IB). Sprickfraktionerna för HX- och HXa-exemplen är 1% respektive 5%.

-----

ture 2 visar SEM-mikrografer av som-built prov. Vid lägre förstoring visade alla exemplar smälta poolgränser och stelningsstrukturer, såsom korngränser och dendriter (Figur 2A, B för HX och Figur 2C, D för HX-a). Figur 2B visar sprickor vid högre förstoring i HX-provet. I båda proverna, var sprickorna bildade längs korngränsen och synts i interdendritiska områden.

Vi utförs EDS kartläggnings avsökningar vid sprickor i HX och HX-a prover. EDS-analys avslöjade SiC karbider och W6C bildning i HX provet (figur 3a). I HX-a prov, EDS kartläggning på crack visade bildning av YC (figur 3b).

Figure 4 visar Eds kartläggning av HX-a som-built prov, vilket indikerar att det finns små Y oxid (yttriumoxid) och Si oxid (kiseldioxid) partiklarna inuti kornet. Elektronens bakre diffraktionskartor (EBSD) -kristallografiska orienteringskartor av båda proverna i det som-built-tillståndet (Figur 5) avslöjade kolumnarkornorienteradenästan parallella med byggriktningen. I HX-provet är vissa kornorienterade i riktning och vissa är i riktning (Figur 5A). Å andra sidan är kornen i HX-a-provetnågot finare och mest orienterade i riktningen (Figur 5b)

\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nn \\n \\n \\n \\n \\n